电子产品高温试验,低温试验报告

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电子产品高温试验,低温试验报告

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公　司：深圳市世华检测有限公司

发布时间：2024年10月22日

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详细说明

高低温试验是用来确定产品在高温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高温的温度和曝露持续时间。
测试标准有：GB/T 2423.2，IEC 60068，IEIA 364， MIL-ST
低温是用来确定产品在低温气候环境条件下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于低温的温度和曝露持续时间。
测试标准有:GB/T 2423.1，IEC 60068-2-1，EIA 364， MIL-STD-810F等。
温度冲击试验是确定产品在温度急剧变化的气候环境下储存、运输、使用的适应性。试验的严苛程度取决于高/低温、驻留时间、循环数。
测试标准有:IEC60068-2-14，GB2423.22,GJB150.5等

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