Hot Disk方法的优点：
1. 直接测量瞬态热传播，测试时间在分秒之间，可以节约大量的时间。
2. 不会和静态法一样受到接触热阻的影响。
3. 无须特别的样品制备，只需相对平整的样品表面。
4. 可用于固体、粉末、涂层、薄膜、液体、各向异性材料等热物性参数的测定。
测试要求
1，可测粉末，块状，液体，薄膜等样品；低导材料建议长宽大于20*20mm，厚度大于3mm，若厚度小于3mm可多提供几块；金属等高导材料尺寸大于50*50*20mm；粉末和液体样品建议提供10-25ml；纸、织物和布等绝缘低导材料建议提供4-6片，尺寸大于30mm*30mm*（10μm~2mm）；
2，导热系数值是hotdisk仪器直接测试得出的，结果中提供的体积比热仅供参考，如需各向异性测试，请单独预约选择各向异性；
3，每次测试需要2块大小相同，至少一面平整的样品，能够夹住导热探头即可；
4，每个样品只测一次，如果需要平行测试，请联系项目经理
参照国际标准ISO 22007-2测得样品导热系数；同一个样品仅可选择一种状态，如样品为不同状态，需新增一组样品测试预约！！！
测试常见问题
1. 探头和样品尺寸如何选择？
扩散系数越大，探头越大。探头选定后需要：样品厚度 > 探头半径、样品直径 > 两倍探头直径，样品尺寸尽量大 |
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