产品特点
1、高精密花岗岩底座和立柱，坚固稳定。
2、采用LED冷光源，底光和表面光手动可调，实现透射和反射照明，亮度高，寿命长，体积小。
3、采用连续变倍的物镜可以快速改变图像的放大倍率，适用于不同工件的测量。
4、无间隙摩擦传动，可切换快速移动，大大提高了工作效率。
5、JVT系列是在JVP型的基础上，增加了高精度Renishaw探针测头，配备TPM专用软件，可作立体工件上的斜面、圆、槽沟、柱、球、锥、盲孔、高度等测量，以及各要素的相关位置、距离、角度计算，可一次性完成整个测量。
产品用途
1、能高效地检测各种形状复杂工件的轮廓、表面形状及尺寸、角度和位置，特别是精密零部件的微观检测与质量控制。
2、适用于电子、仪器仪表、刀夹具、精密机械零件、精密五金件、电子元器件、塑料与橡胶成品、半导体元器件、冲压件、接插件、模具、汽车、机械加工、军工、航天航空、高等院校、科研院所等行业及各级计量部门或车间检查站。
性能参数
产品型号 JVT250 JVT300 JV400
测量行程（mm） 250x150x200 300x200x200 400x300x200
仪器外形尺寸（mm） 800x500x1650 980x650x1650
工作台承重：30KG
操作方式：手动(科切换快速移动)
放大倍率：光学0.7x~4.5x
影像放大倍率：28x~180x
测量系统：FOUC半自动测量软件+TMP三坐标测量软件
测量分辨率：1μm
测量精度：(3+L/200）μm
重复性：2μm
适合环境：温度20±5°；湿度45％~75％
CCD：进口彩色41万像素彩色CCD
电源供电：(110V/220V）±10％ ；( 50/60)Hz
TPM三坐标测量软件（JVT专用）
1、几何元素测量功能：采集点、线、圆、椭圆、平面、球、圆筒、圆锥等。
2、组合计算功能：具有距离、角度、组合点、组合面、组合圆等组合计算功能。
3、形位公差：计算真直度、真圆度、平面度、圆柱度、垂直度、平行度、同轴度等。
4、探针校正和坐标调整：进行探针校正、工件坐标调整。
5、探头测量方位：可进行多种探头方式和多种角度选择。
6、数据输出：可输出至Excel、Word、AutoCAD等软件进行进一步处理和统计分析。
半自动测量软件
软件特点
1、适用于WINDOWS XP操作系统。
2、提供彩色高品质影像。
3、可测量点、线、圆、距离、角度，计算真圆度、真直度、同心度等，并能实时产生检验报表。
4、可切换成中文简体、繁体、英文三种界面。
5、可根据实际物体的摆放位置，在原有坐标系与实际位置不符时，可重新建立新坐标系并自动摆正。
6、图形及测量值可用WORD、EXCEL、DXF等格式自由输出。
7、具有影像寻边功能，可设定感应灵敏度和定焦精度，能有效避免视觉误差。
8、测量画面可储存成影像文件（JPG、BMP）或转至AUTOCAD中进行编辑。
9、可方便切换测量值的基本单位（mm或inch）。
10、可将（X、Y）笛卡尔直角坐标系转换成（r、θ）极坐标系。
软件功能
1、基本几何测量：测量点、线、圆、圆弧、椭圆等。
2、自动测量功能：自动寻边测量、框选测量、筛选毛边自动寻边快速测量点、线、圆、弧等。
3、组合元素测量：对点、线、圆进行组合测量，可计算圆心距、圆切线、两线中线、中心点、垂直距离、角平分线、两线交点等。
4、形位误差测量：测量计算同心度、真圆度、直线度、位置度、倾斜度等形位误差。
5、坐标系设定：可对原始坐标进行坐标平移、坐标旋转，针对物件的位置进行摆正，或是重设新的坐标系。
6、对比功能：将几何测量的工件影像图形以DXF格式输出，进行实时对比测量，还能分别调出AutoCAD工程图纸的文档与影像DXF文档图形进行重叠对比测量，从而检定工件与标准图纸之间的偏差。
7、半自动测量高度：对焦指示器可以利用Z轴微步距移动，进行对焦以获取多个清晰的Z轴断层图像，并且可以将它们合成一个清晰完整的图像组合，系统会根据图像组合判定图像的*好清晰度位置，有效的增强测量的可靠性和重复精度准确性，减小误差。
8、尺寸标注功能：可在物体影像测量中，根据影像图形进行复合运算测量，而无需点击功能键和命令栏，并可直接对影像视窗中的影像图形进行长度、角度、坐标、半径等的标注。
9、检测结果的输出：可输出至DXF/WORD/EXCEL等进行数据处理。
10、形位公差设定：可将工件中的几种形位位置公差，以快捷键形式标识出来，并可在智能化对话框中进行选择，操作简单方便。
11、直轴光源系统：采用直轴光源系统可高精度的显示工件轮廓，使工件在利用半自动版影像测量软件进行测量时，能更准确的获得测量数据。
12、2D抄数功能：测量软件可进行逆向工程中2D/3D抄数，以便能制作标准的2D工程图及三维模型，为其它五金塑胶模具等逆向工程开发提供了极大空间。
13、测量资料统计（SPC）：操作者可根据工件测量要求，自行编辑数据统计表。如可对*大值、*小值、平均值、偏移量、平均偏移量、标准差、X-R、XM-R管制图、X-S、Ca、Cp、Cpk等数据进行统计。
14、半自动学习功能：测量系统有半自动程序编程功能，可储存/调出使用。进行批量检测时只需进行一次测量路径编程后，就可自动抓取测量点，无需再次操作。 |
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