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仪器名称扫描电镜（SEM）
型号：Zeiss Ultra 55
主要技术参数：
1、分辨率1.0 nm at 15 kV；1.7 nm at 1 kV；4.0 nm at 0.1 kV
2、加速电压0.1-30kV
3、放大倍数12-900000
4、探测电流4pA-20nA
5、电子枪：热场发射
应用范围：用于观察样品的表面形态、断口形貌、磨损表面形貌、纳米结构材料形态、生物样品形貌等；结构分析、成分分析。
***用于材料学、机械学、微电子学、生物学、医学等领域。
材料要求：金属、薄膜、半导体、陶瓷、复合、高分子、生物材料等均可，具有一定的导电性，或喷碳/金处理。
聚仪网简介：
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