泰克 Tektronix DSA8300 数字采样示波器
描述
DSA8300 系列提供了小于 100 fs 的本底抖动，可以实现异常准确的器件检定，全面支持光通信标准、时域反射和 S 参数。DSA8300 数字采样示波器为 155 Mb/s 至 100Gb/s 及更高速率的数据通信提供了完整的高速物理层测试平台。
主要特性和技术指标
电模块信号测量准确度：
超低系统抖动（典型 <100 fs）
> 70GHz
<100 fs 本底抖动允许对高位速率（40 和 100 (4′25) Gb/s）设备进行检定，典型 <5% 的信号单位间隔由测试仪器所使用。70 GHz 带宽允许对高位速率信号进行完整检定（数据速率 28 Gb/秒的 5 阶谐波和数据速率 >45 Gb/秒的 3 阶谐波）。
所有带宽上系统噪声业内*低：
600 μV *大（450 μV 典型）@ 60 GHz
380 μV *大（280 μV 典型）@ 30 GHz
较大程度降低仪器在采集高位速率、低幅度信号时的噪声量，避免可能带来附加抖动和眼图闭合的其他噪声。
单台主机内*多 6 个通道同时采集 <100 fs 抖动：
多个差分通道的高保真采集可进行通道间损伤测试，提高多个高速串行通道系统的测试吞吐量。
光模块支持从 155 Mb/s 到 100 Gb/s (4x25) 以太网所有标准速率的光一致性测试：
为单模和多模光标准提供经济实惠、功能多样的光测试系统，从 155 Mb/s (OC3/STM1) 到 40 Gb/s（SONET/SDH 和 40GBase 以太网）和 100 Gb/s 以太网（100GBase-SR4、-LR4 和 ER4），波长 850、1310 和 1550nm。
优异的采集吞吐量，采样率*高 300 kS/s：
通过优异的系统吞吐量，可将制造或设备检定测试时间缩短 4 倍。
能够将采样器放到被测设备 (DUT) 的附近：
远程采样头*大程度降低因 DUT 至仪器之间的电缆和夹具造成的信号劣化，简化测试系统的反嵌。
独立的已校准通道相差校正：
双通道模块中具有集成的已校准通道相差校正，消除时滞，增强多通道测量的 |
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