晶振测试主要方法主要经历了早期的晶体阻抗计，到目前主流的网络分析仪方案。早期的晶体阻抗计检定依据为JJG(電子) 05053-1995 晶体阻抗计检定规程，代表产品有安捷伦HP4915A/4916A，S&A 150等；经历了约20年的发展，2023年国际公认的测试方法为网络分析仪测试方案，依据标准为GB∕T22319.11-2018/IEC 60444-11:2010《石英晶体元件参数的测量第11部分：采用自动网络分析技术和误差校正确定负载谐振频率和有效负载电容的标准方法》，典型产品有智慧源的GDS-80系列等。
工作原理
播报
晶振测试仪GDS-80系列采用π型网络零相位法实现串联谐振频率的测量，采用直接阻抗法来测试负载谐振频率和负载电容，它测量精度高，速度快。具有串联谐振频率Fs、负载谐振频率FL、串联谐振电阻Rs、负载谐振电阻RL、负载电容CL、动态电容C1、动态电感L1、品质因数Q、静电容C0、频率牵引力Ts等参数测量功能。
功能配置
播报
自动测试功能；
超值报警功能
上位机软件通信功能
尺寸参数
播报
250*280*150mm
产品特点
播报
1. 中心频率范围： 10KHz-200KHz,1MHz-200MHz任意设定
2. 扫描范围：±1000ppm（默认±400ppm）
3. 负载电容：1-100P 任意设定
4. 串联谐振频率Fs测量范围：±1000ppm（默认±400ppm） 测量精度：±5ppm
5. 串联谐振电阻Fr：1MHz-100MHz：1Ω-1000Ω （2±10%*R Ω）
10KHz-200KHz：10K-300K （2±10%*R KΩ）
6. 负载电容CL测量范围：1-200PF
7. 时基误差：±1ppm
8. 负载谐振频率FL测量精度：±5ppm+时基误差+0.5Pf*频率牵引力T |
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