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供应BGA测试座 供应BGA测试座_深圳凯智通微电子技术有限公司_供应BGA测试座

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公 司: 深圳凯智通微电子技术有限公司
发布时间:2023年09月20日
有 效 期:2024年03月21日
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陈英姿 女士 (销售工程师)
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公 司:深圳凯智通微电子技术有限公司

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详细说明

    产品特点及性能参数:

※ 采用手动翻盖式结构,操作方便;
※ 上盖的IC压板采用旋压式结构,下压平稳,保证IC的压力均匀,不移位;
※ 探针的特殊头形突起能刺破焊接球的氧化层,接触可靠,而不会损坏锡球;
※ 高精度的定位槽或导向孔,保证IC定位精确,测试效率高;
※ 采用浮板结构,对于BGA IC 有球无球都能测,
※ 探针材料:铍铜(标准),
※ 探针可更换,维修方便,成本低。
※ 绝缘材料:电木、FR4、
※ 最小可做到跳距pitch=0.4mm(引脚中心到中心的距离);
※ 交货快:最快三天内交货。

产品服务:

※ 三个月免费保修(人为损坏除外)。
※ 保修期外,免费维修,如果需换件,只收材料成本费
※ 可以免费提供相关的技术支持。


已申请中国国家专利,专利号(部分):ZL2004100152975;ZL200420015309.X;ZL200510036732.7;

ZL200520063479.X;ZL 20061033402.7;ZL 200710073233.4;ZL 200720118476.0


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