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供应薄膜测厚仪 供应薄膜测厚仪_济南兰光机电技术有限公司_供应薄膜测厚仪

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公 司: 济南兰光机电技术有限公司
发布时间:2018年02月12日
有 效 期:2018年08月14日
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公 司:济南兰光机电技术有限公司

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详细说明

    薄膜测厚仪
薄膜测厚仪适用于塑料薄膜、薄片、隔膜、纸张、箔片、硅片等各种材料的厚度精确测量。薄膜测厚仪符合GB/T 6672、GB/T 451.3、GB/T 6547、ASTM D645、ASTM D374等多项标准。

薄膜测厚仪(CHY-C2)具有以下特点:
接触式测量;
测头自动升降;
手动、自动双重测量模式;
显示*大值、*小值、平均值和统计偏差;
标准接触面积、测量压力(非标可选);
标准量块标定;

薄膜测厚仪技术指标:
测量范围:0~2mm(常规)
                   0~6mm;12mm(可选)
分 辨 率:0.1μm 
测量速度:10次/min(可调)
测量压力:17.5±1kPa(薄膜);50±1kPa(纸张) 
接触面积:50mm2(薄膜);200mm2(纸张) 
           注:薄膜、纸张任选一种;非标可定制

Labthink兰光拥有先进的检测技术与专业实验室,致力于为全球范围医药、食品、日化、包装、印刷、胶粘剂、汽车、石化、环境、生物、新能源、建筑、航空及电子领域客户提供*优秀、*全面的品质控制解决方案。了解详细信息,敬请致电0531-85068566,本信息由济南兰光提供。


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