AND-001薄膜测厚仪，薄膜厚度仪，薄膜厚度计

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公　司：济南艾德诺仪器公司

发布时间：2013年07月29日

有效期：2014年01月28日

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马凤梅女士 (网络销售)

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详细说明

    AND-001薄膜测厚仪

关键词：薄膜测厚仪   薄膜厚度仪  薄膜厚度计
主要用途及特点：
本仪器适用于机械测量法测定塑料薄膜和薄片的厚度（不适用于压花的薄膜和薄片）、读数直观，使用方便。执行GB/T6672-2001标准。
技术参数：
测量范围：0-1㎜
分度值：0.001㎜
上测头曲率半径：15～50㎜
测头对试样施加负荷：0.1～0.5N

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