供应x荧光半导体镀层测厚仪

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供应x荧光半导体镀层测厚仪

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公　司：深圳市金东霖科技有限公司

发布时间：2014年08月18日

有效期：2015年02月17日

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电　　话： 0755-29371651 传　　真： 0755-29371653 手　　机： 13602562447 地　　址：中国广东深圳市沙井北环大道新桥综合大楼502 邮　　编： 518000
公司主页：	http://szsc5158.yiwz.com(加入收藏)

详细说明

博曼x荧光半导体镀层测厚仪是一款低成本高效率、快速可靠的镀层厚度测量及材料分析设备。
在工业领域如电子行业、五金电镀行业、金属合金行业及贵金属分析行业表现出卓越的分析能力，可进行多镀层厚度的测量。
快速、精确的分析：
大面积正比计数探测器和博曼仪器50瓦微聚焦X射线光管（X射线光束强度大、斑点小，样品激发佳）相结合，提供*佳灵敏度
简单的元素区分：
通过次级射线滤波器分离元素的重叠光谱
性能优化，可分析的元素范围大：
博曼x荧光半导体镀层测厚仪预置800多种容易选择的应用参数/方法
卓越的长期稳定性：
自动热补偿功能测量仪器温度变化并做修正，确保稳定的测试结果
例行进行简单快速的波谱校准，可自动检查仪器性能（例如灵敏性）并进行必要的修正
坚固耐用的设计
可在实验室或生产线上操作
坚固的工业设计
博曼x荧光半导体镀层测厚仪结构紧凑、坚固耐用、用于质量控制的可靠的台式X射线荧光分析设备，提供简单、快速、无损的镀层厚度测量和材料分析。
如果您有什么问题或要求，请您随时联系我们。您的任何回复我们都会高度重视。金东霖祝您工作愉快！

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