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公 司: 通标标准技术服务有限公司深圳分公司
发布时间:2019年09月18日
有 效 期:2020年03月19日
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徐亚楠 女士 (客户经理)
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公 司:通标标准技术服务有限公司深圳分公司

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详细说明

    表面形貌及微区成分分析
    利用扫描电子显微镜(SEM)+X射线能谱仪(EDS)可对各种固体表面进行形貌观察,*大放大倍数可达30万倍,同时利用特征X射线可对微区的成分进行定性半定量分析。在金属、半导体、陶瓷、催化剂、矿物、玻璃、PCB板等相关表面形貌及微区成分分析方面得到广泛应用。同时在零件断口分析、表面异物分析等产品失效方面也发挥了关键性的作用。
    SEM+EDS 特点
    u SEM的二次电子成像分辨率约3nm
    u EDS成分分析的元素范围Be(5)~U(92)
    u EDS分析深度约1μm
    u 元素检测下限约1%
    u 空间分辨率约1μm
    测试项目:? 固体材料表面的形貌观察
    ? 金属零部件断口形貌观察
    ? 粉末、微粒样品形态和粒度的测定
    ? 镀层厚度测量
    ? 固体材料表面、截面及微区成分
    ? 表面异物,锈蚀,斑点分析
    ? 样品成分的线分布和面分布
    ? 锡须观察和测量
    适用产品和领域:
    金属、陶瓷、催化剂、矿物、玻璃、PCB板;渗氮、渗碳件,喷涂件, 薄膜件;金相切片样,表面异物,金属断口;粉末材料,生物医学材料等


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