供应美国半导体膜厚测试仪

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供应美国半导体膜厚测试仪

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公　司：深圳市金东霖科技有限公司

发布时间：2014年08月18日

有效期：2015年02月17日

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详细说明

美国半导体膜厚测试仪采用x射线的荧光原理方法，这是适合测量非铁性镀层在钢材或非铁性金属底材上的厚度，甚至镍层在钢材上的厚度也可以测量。
美国半导体膜厚测试仪对在铁上镀锌层、电路板的铜箔及孔铜壁的厚度测理也十分理想。而且博曼 BOWMAN 膜厚测试仪可以在同一时间分别测量两层镀层厚度。
用来测量钢板上镀锌层及油漆的厚度，或是在铝上油漆层的厚度，涂镀可两用，是一款非常不错的仪器。
博曼膜厚测试仪最显著的功能是可以穿透绿油测下面的铜厚，这是其他品牌仪器无法做到的。
博曼膜厚测试仪适合于使用在不需要全部测量数据存储，评估和输出，但又需要在各种几何外形和镀层厚度范围的测试工件上测量的情况下。
配有不同的准直器以适应各种应用情况.
博曼膜厚测试仪样品种类：镀层、薄膜、液体(镀液中的元素含量)
联系人：舒翠 136 0256 8074
电话：0755-29371655
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地址：深圳市宝安沙井北环大道鸿安大厦502

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