供应镀层测厚仪CMI900系列,X射线荧光测厚仪,X荧光测厚仪,

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公　司：深圳市鼎极天电子有限公司

发布时间：2024年08月15日

有效期：2025年02月14日

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公司主页：	http://maqin.yiwz.com(加入收藏)

详细说明

应用

CMI900X射线荧光镀层测厚仪，有着非破坏，非接触，多层合金测量，高生产力，高再现性等优点的情况下进行表面镀层厚度的测量，从质

量管理到成本节约有着广泛的应用。

行业

用于电子元器件，半导体，PCB，LED支架，五金电镀，连接器等……多个行业表面镀层厚度的测量。

技术参数

主要规格规格描述

X射线激发系统垂直上照式X射线光学系统

空冷式微聚焦型X射线管，Be窗

标准靶材：Rh靶；任选靶材：W、Mo、Ag等

功率：50W(4-50kV，0-1.0mA)－标准

75W(4-50kV，0-1.5mA)－任选

装备有安全防射线光闸

二次X射线滤光片：3个位置程控交换，多种材质、多种厚度的二次滤光片任选

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